Инфа

Поиск:

Мобильный:

8-916-801-1732 или

8-916-801-1718

----

E-mail: b2000s@yandex.ru

Skype: b2000s1


Отзывы



САЛОН КРАСОТЫ «ФАБРИКА ГРЕЗ»

ОТЗЫВ


20 марта 2007 г. для менеджеров салона красоты "ФАБРИКА ГРЕЗ" проводился семинар "Методика диагностики уровня компетентности и скрытых ресурсов". Семинар проводили сотрудники ООО Академии Развития Способностей "Гармония" Балыкин Александр Иванович и Балыкина-Милушкина Тамара Викторовна.

На семинаре были получены знания о методиках диагностики:

  1. Диагностическое интервью.
  2. Социометрия.
  3. Психометрия.
  4. Типы трудовой мотивации.
  5. SWOT-анализ.
  6. Диагностика скрытого ресурса (личностного, профессионального и организационного) с использованием индикатора "ИПЭР-1К".

Особенно понравилась информация о диагностике скрытого ресурса с использованием индикатора "ИПЭР-1К". Интересно и ново было то, что этот универсальный метод может использоваться для анализа деятельности конкретных подразделений. В ряде случаев его можно использовать для оценки сильных, слабых сторон, возможностей и угроз в кадровой работе, при принятии управленческих решений. Кроме того, применение данной технологии может быть использовано маркетинговой службой для нахождения новых форм привлечения клиентов.

Предложенные методики, позволяющие систематизировать проблемную ситуацию, лучше осознать структуру ресурсов, на которые следует опираться в совершенствовании деятельности и развитии организации, являются прекрасным подспорьем в практической деятельности руководителя любого уровня.



Генеральный директор
ООО «Фабрика грез»

/С.В. Киселева /

Метро Охотный ряд, Театральная, Площадь Революции, Китай-город , ул. Ветошный переулок, дом 9, ТЦ «Никольский пассаж», этаж 3. КАРТА ПРОЕЗДА

2017 © Авторские права защищены.

Балыкин А.И., Балыкина-Милушкина Т.В., Качнов С.М., Невзоров П.В. Патент на способ гармонизации психо-эмоционального состояния человека (№2373965). Патент на устройство для оценки психоэмоционального состояния человека (№107482). Патент на товарный знак (№386937). Депонент на объект интеллектуальной собственности РНТИЦ Академии наук РФ, № 002/2003